[发明专利]一种动态可控的磁控溅射自动测量控制膜厚装置在审
申请号: | 202010419092.2 | 申请日: | 2020-05-18 |
公开(公告)号: | CN111501005A | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 左佑;陈功;刘子康;张家华;朱永康;宗律;房澍;郭天煜;李洁玲;李梦云 | 申请(专利权)人: | 常州工学院 |
主分类号: | C23C14/54 | 分类号: | C23C14/54;C23C14/35 |
代理公司: | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人: | 林娟 |
地址: | 213032 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种动态可控的磁控溅射自动测量控制膜厚装置,属于真空镀膜领域以及自动化检测及控制领域。所述装置包括:靶材、环形导轨、运动小车、测量装置;所述靶材设于环形导轨中心位置;所述运动小车安装在环形导轨上并沿环形导轨运动;所述测量装置包括中心杆、主旋转筒、膜厚测量仪、第一旋转导向组件、第二旋转导向组件、升降伺服电机;所述膜厚测量仪固定于主旋转筒的上端。本发明可以通过改变运动小车在环形轨道上的位置,并通过主旋转筒来改变膜厚测量仪的测量高度,从而实现在不同位置的、动态的磁控溅射自动检测控制膜厚。 | ||
搜索关键词: | 一种 动态 可控 磁控溅射 自动 测量 控制 装置 | ||
【主权项】:
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