[发明专利]一种用于提高激光测距精度的多点投影装置及其测量方法在审

专利信息
申请号: 202010421679.7 申请日: 2020-05-18
公开(公告)号: CN111443354A 公开(公告)日: 2020-07-24
发明(设计)人: 刘夏;罗斯特;刘冬山;侯俊科;蒋科强 申请(专利权)人: 深圳市慧视智图科技有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/481;G01S7/4865;G03B21/00
代理公司: 深圳市友邦专利代理事务所(普通合伙) 44600 代理人: 王玲玲
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种用于提高激光测距精度的多点投影装置及其测量方法,属于激光测距技术领域;其包括先通过激光发射单元依次发出最少三束激光光束,激光通过光学扫描单元依次以不同角度照射至被测物体表面,经被测物体表面反射后通过光学接收单元被激光接收单元接收;数据处理单元根据所接收的数据得出每一束激光光束的测距数值,结合每束光束的射出角度计算得出每个测量点的空间坐标数据;将得出的空间坐标数据构造埃尔米特矩阵得出最小特征值和特征向量,根据最小特征值和特征向量得出平面方程的系数;将得出的平面方程系数代入点到平面的投影距离公式得到激光测距装置到被测物体之间的实际距离;最大限度地消除了外部误差,提高了测距精度。
搜索关键词: 一种 用于 提高 激光 测距 精度 多点 投影 装置 及其 测量方法
【主权项】:
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