[发明专利]一种嵌入式操作系统自动化闭环测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 202010424089.X 申请日: 2020-05-19
公开(公告)号: CN111597115A 公开(公告)日: 2020-08-28
发明(设计)人: 王磊;白亮;朱新忠;田文波;王茂森;施雯 申请(专利权)人: 上海航天计算机技术研究所
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 黄超宇;胡晶
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种嵌入式操作系统自动化闭环测试系统及测试方法,包括被测目标系统和测试控制系统,所述被测目标系统模拟宇航计算机系统外围设备,通过基于QEMU仿真应用系统和被测操作系统构成运行环境;测试控制系统由测试用例管理系统、代码托管系统和缺陷跟踪系统组成,将代码提交代码托管系统后,激活测试用例系统提取选定测试用例,将测试用例和代码自动编译下载到被测目标系统测试,测试过程发现的缺陷数据则提交给缺陷跟踪系统,缺陷跟踪系统记录缺陷数据并实时跟踪缺陷修复情况。该系统解决了嵌入式操作系统多任务、大批量数据处理及特殊空间环境故障注入等特性的一体化测试要求;测试流程降低了测试过程的误操作率,极大地提高测试效率。
搜索关键词: 一种 嵌入式 操作系统 自动化 闭环 测试 系统 方法
【主权项】:
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