[发明专利]基于March算法优化的DRAM检测故障方法、装置及系统在审
| 申请号： | 202010430365.3 | 申请日： | 2020-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN112053732A | 公开（公告）日： | 2020-12-08 |
| 发明（设计）人： | 李斌 | 申请（专利权）人： | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/54 |
| 代理公司： | 深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689 | 代理人： | 林国友 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种基于March算法优化的DRAM检测故障方法、装置及系统，运用于半导体集成电路测试领域，其通过地址定位单元，以定位DRAM存储器内各单元的读写地址；通过算法加载单元，加载预存的新型改进算法以获取与读写地址数量和位置相应的测试写入值和与所述测试写入值对应的测试读取值；通过写入单元，将所述测试写入值一一对应的写入DRAM存储器中各个读写地址位置；通过读取单元，对应的获取各个读写地址位置反馈的实际读取值；通过判断单元，比对判断所述测试读取值和实际读取值是否符合预设定的验证规则；最终通过判定单元，当判定不符合时，则判定所述DRAM存在故障；有效的解决现有测试方法存在成本高，不能单独测试具体参数的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 march 算法 优化 dram 检测 故障 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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