[发明专利]一种用于探测分子手性的断开式微纳结构及其应用在审
| 申请号： | 202010431110.9 | 申请日： | 2020-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN111551504A | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 金华伏安光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G01R33/032 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 322200 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于探测分子手性的断开式微纳结构及其应用方法，断开式微纳结构为贵金属材料；当不同偏振的圆偏振光照射时，处于断开处的手性分子在贵金属材料中诱导不同的环流，从而在断开式微纳结构附近产生不同的磁场，应用金刚石氮‑空位色心发生荧光的方法，探测该磁场；通过在不同偏振圆偏振光激发时磁场的差异，确定分子手性。本发明中金刚石颗粒位于衬底的另一侧，设置金刚石颗粒简单，使用方便。另外，由于断开处的电场强，手性分子处于该处能够产生更强的诱导效应，所以探测灵敏度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 探测 分子 手性 断开 式微 结构 及其 应用 | ||
【主权项】：
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