[发明专利]一种STED超分辨技术中的自适应光学像差校正系统及方法有效
| 申请号： | 202010435438.8 | 申请日： | 2020-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN111562665B | 公开（公告）日： | 2021-03-19 |
| 发明（设计）人： | 龚薇;斯科;陈佳佳 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G02B21/00 | 分类号： | G02B21/00;G01N21/84 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 林超 |
| 地址： | 310058 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种STED超分辨技术中的自适应光学像差校正系统及方法。从激发光源发出的光束入射到空间光调制器的右半区域，从损耗光源发出的光束入射到空间光调制器的左半区域，空间光调制器与散射介质层共轭，空间光调制器的右半区域对激发光束的像差进行校正，左半区域对损耗光束进行相位调制并对光束像差进行校正，经空间光调制器的两光束合束后，再经过物镜聚焦到样本上，进行超分辨成像。本发明能够对受激辐射损耗显微系统中激发光束和损耗光束的像差进行同时校正，减少了空间光调制器的数量，降低了系统像差校正的成本，提高了散射组织中激发光束和损耗光束的光斑质量，为在厚组织样本中实现超分辨显微成像提供了新技术。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 sted 分辨 技术 中的 自适应 光学 校正 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大学，未经浙江大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010435438.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
