[发明专利]基于单像素成像系统的微弱漏电检测方法有效
申请号: | 202010436520.2 | 申请日: | 2020-05-21 |
公开(公告)号: | CN111736040B | 公开(公告)日: | 2023-01-24 |
发明(设计)人: | 何睿清;张健;魏峘;赵静;余辉龙;覃翠 | 申请(专利权)人: | 南京工程学院 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G01R31/52;G01R31/56 |
代理公司: | 南京钟山专利代理有限公司 32252 | 代理人: | 徐博 |
地址: | 211167 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明是基于单像素成像系统的微弱漏电检测方法,成像镜头采集到的光线经过分束棱镜反射和透射形成日盲紫外光路和可见光光路,日盲紫外光路顺次经过紫外滤波片、紫外波段成像透镜、数字微镜器件、紫外波段收集透镜后汇聚在紫外波段单点探测器上,可见光光路顺次经过可见光滤波片、可见光波段成像透镜后到达可见光波段面阵探测器。日盲紫外光路采集到的紫外图像去噪后与可见光光路采集到的可见光图像相互融合,输出漏电区域的定位图像,完成微弱漏电检测。该方法能够解决目标物体放电时所释放出的日盲紫外信号较弱导致采集数据不精准的问题,降低日盲紫外成像器件的制造成本,将紫外图像与可见光图像相融合,可实现输电设备漏电区域的快速定位。 | ||
搜索关键词: | 基于 像素 成像 系统 微弱 漏电 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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