[发明专利]光谱气室、光谱标定及测量方法在审

专利信息
申请号: 202010439971.1 申请日: 2020-05-22
公开(公告)号: CN111551508A 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: 何军;胡芫林;程满满;刘幸;苏琴;郭冰 申请(专利权)人: 深圳国技环保技术有限公司
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;G01N21/33
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518102 广东省深圳市宝安区新安街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种能够极大地降低工作人员的劳动强度、节约实验资源、提高工作效率、标定及测试准确的光谱气室、光谱标定及测量方法。光谱气室的光谱气室主体的结构为一内部具有空腔的柱状体,且光谱气室主体一端的内侧设有一反射结构层,且光谱气室主体设有光纤入口及光纤出口,且光纤入口及光纤出口分别连接有输入光纤和输出光纤,还包括一用于发出光信号的光源,光源发出光信号,并通过输入光纤、光纤入口进入空腔,并经反射结构层反射,由光纤出口、输出光纤连接光谱仪及上位机,还包括至少一个气仓,及光谱气室主体的一表面设有至少一个让气仓插入的气仓口,气仓可对应地插入气仓口而进入空腔,光信号可往复穿过气仓,气仓内部封装有标气或待测试气体。
搜索关键词: 光谱 标定 测量方法
【主权项】:
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