[发明专利]一种自由曲面长缝光谱仪光学系统在审
申请号: | 202010440797.2 | 申请日: | 2020-05-22 |
公开(公告)号: | CN111561998A | 公开(公告)日: | 2020-08-21 |
发明(设计)人: | 袁立银;王跃明;谢佳楠;何志平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G01J3/02 | 分类号: | G01J3/02;G01J3/28 |
代理公司: | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种自由曲面长缝光谱仪光学系统,由视场光栏、折反镜组、自由曲面透镜、光栅和滤光片组成,其中折反镜组有一片正透镜和一片内反射负透镜组成。光学系统为折反射式,来自物方的光线从视场光栏出发,经折反镜组内反射后再经折反镜组透射至自由曲面透镜到达光栅,经其衍射后再经过自由曲面透镜至折反镜组内反射及透射后出射至滤光片,到达像面。自由曲面透镜有利于进一步校正光谱畸变和像质。本发明的优点是:能适应长狭缝设计需求,像差校正能力强,畸变低,结构紧凑;比曲面光栅和已有的含有多个非球面的类似光谱仪的成本低。 | ||
搜索关键词: | 一种 自由 曲面 光谱仪 光学系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010440797.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:晶圆解吸附方法及装置
- 下一篇:一种红外面场光谱仪光学系统及设计方法