[发明专利]一种双辐照计推测直射辐照比例的方法有效
| 申请号： | 202010441260.8 | 申请日： | 2020-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN111596381B | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 孙凯;赵明;高纪凡;全鹏;黄国昆;吴军 | 申请（专利权）人： | 天合光能股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00 |
| 代理公司： | 浙江永鼎律师事务所 33233 | 代理人： | 郭小丽 |
| 地址： | 213031 江苏省常*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种推测直射辐照比例的方法，包含下述步骤：S1：使用两个以上辐照计分别采集水平总辐照及斜面总辐照；S2：根据水平总辐照预设晴天指数，得到水平直射辐照及水平散射辐照，根据斜面辐照模型计算理论斜面辐照；S3：晴天指数推演，将理论斜面辐照与实测斜面辐照做对比，确定晴天指数区间，最后可通过插值法推测当前晴天指数。本发明可为后续数据分析提供必要的基础辐照信息，也可为跟踪支架在不同天气状况下的优化角度计算提供必要输入条件如排除“伪阴天”状态，判别“阴天放平”，增加设备成本不高，且简单易行。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐照 推测 直射 比例 方法 | ||
【主权项】：
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