[发明专利]一种DOS下BMC显存的测试方法及系统有效
| 申请号： | 202010443689.0 | 申请日： | 2020-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN111752813B | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | 郭淑珍 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34;G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南诚智商标专利事务所有限公司 37105 | 代理人： | 李修杰 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种DOS下BMC显存的测试方法及系统，该测试方法包括：搭建BMC显存测试环境；设定显存测试的迭代系数以及循环次数记录参数，迭代系数用于描述显存加压测试的循环次数，循环次数记录参数用于记录已经执行的显存加压测试的次数；执行一个循环的显存加压测试；利用循环次数记录参数更新循环次数；判断循环次数是否小于迭代系数；如果是，继续执行下一个循环的显存加压测试；如果否，获取测试日志；根据测试日志，确定BMC显存测试结果。该测试系统包括：测试环境搭建模块、参数设置模块、显存加压测试模块、更新模块、日志获取模块和测试结果确定模块。通过本申请，能够提高BMC显存测试效率和测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 dos bmc 显存 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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