[发明专利]一种基于TOF的深度测量装置、方法及电子设备有效
| 申请号： | 202010445256.9 | 申请日： | 2020-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN111736173B | 公开（公告）日： | 2023-04-11 |
| 发明（设计）人： | 杨鹏;王兆民 | 申请（专利权）人： | 奥比中光科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/894 | 分类号： | G01S17/894;G01S7/48;G01S7/481;G01S7/4861;G01S17/10 |
| 代理公司： | 深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44578 | 代理人： | 田志立 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于TOF的深度测量装置，包括：光发射模组，用于向目标物体发射光束；成像模组，用于采集经目标物体反射回的反射光束并生成相应的电信号，以及采集目标物体的二维图像；控制与处理器，分别与光发射模组以及成像模组连接，用于控制光发射模组发射被调制的发射光束；以及，同步触发成像模组开启接收所述电信号和二维图像，对所述电信号进行计算以获得目标物体的一个或多个TOF深度值，同时利用所述二维图像进行深度学习以获得相对深度值，进而基于相对深度值从一个或多个TOF深度值中确定实际深度值。通过对二维图像进行深度学习以得到相对深度值，基于该相对深度值辅助ToF解卷绕，从而提升深度图的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 tof 深度 测量 装置 方法 电子设备 | ||
【主权项】：
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