[发明专利]光学膜的翘曲的测定方法以及测定装置在审
| 申请号： | 202010445818.X | 申请日： | 2020-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN111999247A | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 神崎昌;安藤卓也 | 申请（专利权）人： | 住友化学株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/958 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 刘文海 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光学膜的翘曲的测定方法以及测定装置。在本发明的测定方法中，以载置于工作台(4)上的光学膜(10)为对象，利用激光从光学膜(10)的上方朝向光学膜(10)的端部扫描，并检测来自端部的激光的反射光，由此获取端部的高度位置的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测定 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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