[发明专利]半导体装置以及传感器装置在审
| 申请号： | 202010446844.4 | 申请日： | 2020-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN112242167A | 公开（公告）日： | 2021-01-19 |
| 发明（设计）人： | 松并和宏;嶋津胜博 | 申请（专利权）人： | 富士电机株式会社 |
| 主分类号： | G11C16/04 | 分类号： | G11C16/04;G11C16/34;G11C29/42 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 杨敏;金玉兰 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体装置以及传感器装置。其对修正用存储器的劣化进行检测。该半导体装置具备：修正用存储器，其存储有对修正对象进行修正的修正用数据；修正部，其使用从修正用存储器读取出的修正用数据，对传感器元件的检测值进行修正；诊断部，其使用从修正用存储器读取出的修正用数据，对修正用存储器进行诊断；以及控制部，其对从修正用存储器读取修正用数据时的读取条件进行控制，控制部使第一读取条件与第二读取条件不同，第一读取条件是读取用于修正的修正用数据时的读取条件，第二读取条件是读取用于诊断的修正用数据时的读取条件。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 以及 传感器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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