[发明专利]基于失效大数据的电子整机加速贮存试验加速因子风险率分析方法在审

专利信息
申请号: 202010449338.0 申请日: 2020-05-25
公开(公告)号: CN111881539A 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 蔡健平;徐洪武;张睿;宋汝宁;王伟;朱炜;陈凤熹 申请(专利权)人: 中国航天标准化研究所
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F119/02
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 高燕燕
地址: 100071*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种基于失效大数据的电子整机加速贮存试验加速因子风险率分析方法,利用各种电子整机在贮存过程中的得到的失效大数据,计算给定的加速因子的风险率,从而为贮存期试验验证方案的制定、评估加速贮存试验的可信性提供依据。具体包括:获取电子整机的元器件清单;根据电子整机的质量数据库中查询所述元器件清单中的每种元器件型号的贮存失效信息,形成电子整机失效元器件清单;计算所述电子整机失效元器件清单中每个元器件的加速因子,形成电子整机元器件加速因子表;根据所述加速因子表分析电子整机加速贮存试验加速因子风险率和分布区间。
搜索关键词: 基于 失效 数据 电子 整机 加速 贮存 试验 因子 风险 分析 方法
【主权项】:
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