[发明专利]一种岩石样本磨平抛光加载装置、制样系统及制样方法有效
| 申请号： | 202010453386.7 | 申请日： | 2020-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN111595644B | 公开（公告）日： | 2021-03-19 |
| 发明（设计）人： | 郭唯明;王登红;曹殿华;孙艳 | 申请（专利权）人： | 中国地质科学院矿产资源研究所 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N1/32 |
| 代理公司： | 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 | 代理人： | 庞立岩;顾珊 |
| 地址： | 100032 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种岩石样本磨平抛光加载装置、制样系统及制样方法，属于岩石样本制样技术领域，解决现有方法制样效率低、成品率低的问题。岩石样本磨平抛光加载装置包括样本卡盘、连接板、样品压块、配重组件和修盘环；样本卡盘和连接板均能够可拆卸安装于修盘环中，连接板与修盘环的上端连接，连接板位于样本卡盘的上方；样本卡盘为旋转对称结构，且沿周向均匀布设多个样品安装孔；样品压块能够安装于样品安装孔内，连接板设有配重通孔，配重组件能够通过配重通孔向样品压块施加压力；采用热塑树脂将岩石样本固定在样品压块的下表面，岩石样本的待研磨抛光面与样品压块的上表面平行。本发明的制样方法，制样效率高、成品率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 岩石 样本 磨平 抛光 加载 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
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