[发明专利]项目测试缺陷分析方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202010455310.8 | 申请日： | 2020-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN111611172A | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 范永骏 | 申请（专利权）人： | 深圳壹账通智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325 | 代理人： | 谭果林 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种项目测试缺陷分析方法、装置、设备及存储介质。所述方法包括：接收客户端发送的项目测试请求，解析出项目测试请求中包含的待测试项目和接口调用参数；根据接口调用参数调用配置在预设缺陷跟踪工具中的预设接口，并通过预设接口获取待测试项目进行测试过程中的所有缺陷数据；将所有缺陷数据输入至预设的缺陷分析模型中，并接收缺陷分析模型输出的缺陷分析结果；将待测试项目与缺陷分析结果关联存储至数据库，同时将缺陷分析结果发送至客户端。本发明节约了人工成本，且缺陷数据粒度更细，有利于提高数据处理效率和缺陷分析结果的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 项目 测试 缺陷 分析 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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