[发明专利]相干阵列光束相位误差检测装置及相干合成锁相系统在审
| 申请号： | 202010456031.3 | 申请日： | 2020-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN111473873A | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 马阎星;马鹏飞;粟荣涛;吴坚;姜曼;周朴;司磊;许晓军;陈金宝 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02 |
| 代理公司： | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人： | 邱轶 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明提出了相干阵列光束相位误差检测装置及相干合成锁相系统。相干阵列光束相位误差检测装置包括基板、立方分束器、立方合束器和偏振光电探测器。立方合束器呈N×M阵列排布在安装基板上，立方分束器排布在立方合束器阵列的一侧，与立方合束器阵列形成N×(M+1)阵列。参考光通过立方分束器后与相干阵列光束在立方合束器处进行偏振相干合成，实现阵列光束与参考光的相位误差检测。将该装置应用到相干合成系统中，对阵列光束分束后的小部分光进行处理后，获得相位误差传输给信号处理器，生成误差补偿信号，反馈给各光束的相位调制器，进行活塞像差校正，实现相干合成。利用本发明可有效提升相干合成系统的光束数量，解决控制带宽受限的难题。 | ||
| 搜索关键词： | 相干 阵列 光束 相位 误差 检测 装置 合成 系统 | ||
【主权项】：
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