[发明专利]一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法及测试系统在审
| 申请号： | 202010457544.6 | 申请日： | 2020-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN111639001A | 公开（公告）日： | 2020-09-08 |
| 发明（设计）人： | 池雅庆;梁斌;陈建军;郭阳;袁珩洲;刘必慰;宋睿强;吴振宇 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/273 |
| 代理公司： | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人： | 周长清 |
| 地址： | 410073 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法及测试系统，该方法步骤包括：步骤S1：为被测微处理器供电并监控供电电流，被测微处理器运行微处理器测试程序；步骤S2：对被测微处理器进行瞬时高剂量率射线辐照；步骤S3：根据供电电流是否超过电流指定值，对被测微处理器进行终点电测试，以判定是否发生瞬时剂量率闩锁效应。该测试系统用来实施上述测试方法。本发明具有原理简单、易实现、能够提高测试准确度等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微处理器 瞬时 剂量率 效应 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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