[发明专利]电阻式随机存取存储器装置及其形成方法在审

专利信息
申请号: 202010460935.3 申请日: 2020-05-27
公开(公告)号: CN112802870A 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 陈达 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L29/06;H01L29/08;H01L29/78;H01L21/82
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王天尧;汤在彦
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供了一种电阻式随机存取存储器装置及其形成方法。电阻式随机存取存储器装置包括位于衬底上的栅极结构,以及源极区和漏极区,其配置于此衬底上的此栅极结构的两侧。此源极区包括半导体块体,且此漏极区包括邻近此半导体块体的多个半导体鳍片,其中这些半导体鳍片彼此被隔离层分隔。电阻式随机存取存储器装置还包括多个电阻式随机存取存储器单元,其中每一个电阻式随机存取存储器单元都与这些半导体鳍片的其中之一电连接。
搜索关键词: 电阻 随机存取存储器 装置 及其 形成 方法
【主权项】:
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