[发明专利]一种氘氚混合气中微量杂质含量的分析系统及方法有效

专利信息
申请号: 202010465131.2 申请日: 2020-05-28
公开(公告)号: CN111579694B 公开(公告)日: 2022-09-23
发明(设计)人: 王伟伟;毛义武;夏立东;沈春雷;陈晓华;李海容;张伟光;周晓松;任兴碧;龙兴贵;彭述明 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
主分类号: G01N30/20 分类号: G01N30/20;G01N30/06;G01N30/46
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 张保朝;张晓林
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种氘氚混合气中微量杂质含量的分析系统,该系统采取三通阀组合、背压阀、负压罐等特定组合方式,实现了连续负压取样分析、尤其实现了少量氚样品连续的负压取样及在线分析,同时解决了安全防护问题。本发明通过设置两个平行测试通道,一个是化学纯度测试通道,另一个是同位素纯度测试通道,避免了液氮低温下对部分杂质气体的吸附作用。本发明还公开了一种氘氚混合气中微量杂质含量的分析方法,该方法化学纯度测试通道以氦气作为载气,通过特定阀切组合、特定柱组合、检测器,完成O2,N2,CH4,CO,CO2,C2H6的分析测定;同位素测试通道以氖气作载气,利用特制的金属毛细柱、检测器,完成H2,HD,HT,D2,DT,T2的测定;本发明使用Ne做载气,一方面可以增加检测器对氢同位素的检测灵敏度,另一方面可以实现对He的定性与定量。
搜索关键词: 一种 混合 微量 杂质 含量 分析 系统 方法
【主权项】:
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