[发明专利]一种氘氚混合气中微量杂质含量的分析系统及方法有效
申请号: | 202010465131.2 | 申请日: | 2020-05-28 |
公开(公告)号: | CN111579694B | 公开(公告)日: | 2022-09-23 |
发明(设计)人: | 王伟伟;毛义武;夏立东;沈春雷;陈晓华;李海容;张伟光;周晓松;任兴碧;龙兴贵;彭述明 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
主分类号: | G01N30/20 | 分类号: | G01N30/20;G01N30/06;G01N30/46 |
代理公司: | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人: | 张保朝;张晓林 |
地址: | 621999 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明公开了一种氘氚混合气中微量杂质含量的分析系统,该系统采取三通阀组合、背压阀、负压罐等特定组合方式,实现了连续负压取样分析、尤其实现了少量氚样品连续的负压取样及在线分析,同时解决了安全防护问题。本发明通过设置两个平行测试通道,一个是化学纯度测试通道,另一个是同位素纯度测试通道,避免了液氮低温下对部分杂质气体的吸附作用。本发明还公开了一种氘氚混合气中微量杂质含量的分析方法,该方法化学纯度测试通道以氦气作为载气,通过特定阀切组合、特定柱组合、检测器,完成O |
||
搜索关键词: | 一种 混合 微量 杂质 含量 分析 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院核物理与化学研究所,未经中国工程物理研究院核物理与化学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010465131.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。