[发明专利]一种考虑不确定性的电路系统测试性指标预计方法

摘要

本发明公开了一种考虑不确定性的电路系统测试性指标预计方法，所述方法首先根据电路系统的历史故障信息等确定其故障集、测试特征完备集以及不确定性因素种类；之后建立该电路系统的故障仿真模型，并通过蒙特卡洛方法模拟获得不确定性影响下测试特征的分布情况；基于获取的测试特征分布信息建立故障‑测试特征相关性矩阵；基于该矩阵，构建可用于描述测试特征相关性的高斯Copula形式的3种测试性指标预计函数；在此基础上进一步考虑测试特征子集选择问题，构建可用于任意子集的测试性指标快速预计函数。本发明考虑了测试特征之间的相关性，可有效提高电路系统测试性指标预计精度。