[发明专利]一种全光相位量化方法、全光相位量化器在审
| 申请号： | 202010471858.1 | 申请日： | 2020-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN112578606A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 北京科易达知识产权服务有限公司 |
| 主分类号： | G02F7/00 | 分类号： | G02F7/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100000 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种全光相位量化方法，将具有相位差的两路光信号量化为具有不同强度的多路光信号；对所述多路光信号进行光电转换为电信号并放大；选取判决阈值与所述放大后的多路电信号进行比较后，转换为数字电信号；将所述数字电信号中周期性重复部分进行恢复，形成完整的数字信号输出。本发明公开了一种全光相位量化方法及装置能够有效提升相位量化分辨率(量化位数)，降低光相位量化结构复杂度，为全光模数转换器奠定基础。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相位 量化 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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