[发明专利]用于校正由光学传感器检测到的主测量信号的方法有效
| 申请号： | 202010471968.8 | 申请日： | 2020-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN112051218B | 公开（公告）日： | 2023-10-20 |
| 发明（设计）人： | 赫尔曼·京特;罗尼·迈克尔;斯特凡·保罗 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 穆森;戚传江 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于校正由光学传感器检测到的主测量信号的方法。该方法包括：提供具有光源、有源传感器层、光学检测器和控制单元的光学测量装置，其中，控制单元被连接到光源和光学检测器；从光源向有源传感器层发射第一光信号，使得有源传感器层被激励并向光学检测器发射第二光信号；检测由有源传感器层发射的第二光信号；基于第一和第二光信号或者基于第一光信号，来确定主测量参数的主测量信号；基于第一或第二光信号，来确定与主测量参数不同的次测量参数的次测量信号；将所确定的次测量信号与第一极限值进行比较；如果次测量信号超过第一极限值，则来校正主测量信号；其中，校正主测量信号包括对主测量信号进行滤波，使得主测量信号被平滑。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校正 光学 传感器 检测 测量 信号 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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