[发明专利]具备高分辨多维操纵和电学测量的电子显微镜原位样品杆在审
| 申请号： | 202010473231.X | 申请日： | 2020-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN111613507A | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 许智 | 申请（专利权）人： | 安徽泽攸科技有限公司 |
| 主分类号： | H01J37/20 | 分类号： | H01J37/20;H01J37/26;H01J37/28 |
| 代理公司： | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人： | 胡剑辉 |
| 地址： | 244000 安徽省铜陵市经济*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了具备高分辨多维操纵和电学测量的电子显微镜原位样品杆，杆头本体包括微操纵结构和探针，操纵结构包括形变机构、伸缩机构以及设置为球形重力块结构的惯性传感机构，形变机构通过伸缩机构和探针连接；形变机构的压电陶瓷片组的每对压电陶瓷贴对称固定贴设在基底底座的侧壁上，基底底座的底部设置有压电陶瓷片；伸缩机构的滑块b和垫片同步沿着滑块a的轴线方向相对滑动。除了能对指定位置进行物性测量外，还可以充当三维纳米操纵手，在TEM内实现两根纳米线的原位焊接、实验样品的原位压缩、原位制备异质结等精确操作。该整体结构设计可实现操纵的分辨率提高，且有利于增加设备使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 具备 分辨 多维 操纵 电学 测量 电子显微镜 原位 样品 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安徽泽攸科技有限公司，未经安徽泽攸科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010473231.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种基于广义协方差的主成分分析方法
- 下一篇：一种建筑幕墙安装装置
