[发明专利]一种基于密度统计的单光子激光测高数据去噪方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010477987.1 申请日: 2020-05-29
公开(公告)号: CN111665517B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 谢欢;叶丹;徐琪;童小华;刘世杰;金雁敏;许雄;王超;柳思聪;陈鹏;冯永玖 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01S7/495;G01S7/487;G06K9/00;G06K9/62
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 王怀瑜
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种基于密度统计的单光子激光测高数据去噪方法及装置,方法包括以下步骤:1)获取单光子激光测高数据;2)进行数据预处理;3)采用方向、大小随坡度自适应变化的椭圆搜索区域进行光子密度计算;4)通过采用OTSU方法自适应计算分段阈值分离信号光子与噪声光子,并采用K最近邻距离去除离散噪声点。与现有技术相比,本发明不受背景噪声光子不均匀的影响,自适应较强,不仅可以随着斜率自适应地改变搜索椭圆的方向,而且可以改变大小,并且使用分段阈值来分离每个段的信号光子和噪声光子,进一步去除粗去噪后残留的少量离散噪声点,本发明方案信号提取较完整,去噪精度高、效率高。
搜索关键词: 一种 基于 密度 统计 光子 激光 测高 数据 方法 装置
【主权项】:
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