[发明专利]一种减小截断误差的平面天线近场测量方法及系统有效
| 申请号： | 202010482038.2 | 申请日： | 2020-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN111366793B | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 周建华;栗曦;毛小莲;杨林 | 申请（专利权）人： | 上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人： | 殷晓雪 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区郭*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种减小截断误差的平面天线近场测量方法。根据探头接收到的电场通过逆傅里叶变换得到探头输出的平面波谱。进行探头修正。由待测天线的发射谱和谱域滤波函数计算待测天线的平面波谱的可信谱域。由待测天线的平面波谱的可信谱域经过傅里叶变换得到待测天线的口径电场。由待测天线的口径电场通过逆傅里叶变换得到待测天线的平面波谱的标量形式以及位于待测天线与扫描面之间位置的电场。引入额外的行或列测量，计算位于额外的行或列探头位置的电场；每一次进行额外的行或列测量都计算迭代误差。重复直至第n次的迭代误差大于第n‑1次的迭代误差时迭代终止。本申请基于带限函数外推算法实现了减小平面近场测量中的截断误差问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 减小 截断 误差 平面 天线 近场 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司，未经上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010482038.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
