[发明专利]一种提高太阳系小天体的天体测量观测精度的方法有效

专利信息
申请号: 202010483943.X 申请日: 2020-06-01
公开(公告)号: CN111486823B 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 张益恭;苏婕;王建成;杨磊;程向明;张桢君;张冠军 申请(专利权)人: 中国科学院云南天文台
主分类号: G01C11/04 分类号: G01C11/04;G06T5/00;G06T5/50;G06T7/194
代理公司: 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11638 代理人: 王新爱
地址: 650000 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 本公开公开了一种提高太阳系小天体的天体测量观测精度的方法,包括以下步骤:选定观测目标,确定观测目标的曝光时间后,拍摄预设数量的图像作为原始图像数据集;预处理得到预处理后的原始图像集;对预处理后的原始图像数据集分割,形成单独的观测目标数据集和背景恒星数据集;对齐叠加,获得对齐叠加背景恒星数据集和对齐叠加观测目标数据集;同一幅原始图像相对应的图像进行合并叠加;天体测量归算,计算观测目标的站心视位置。本公开的一个技术效果在于能够获取较多高信噪比的背景恒星及较为理想的目标小天体图像,提升观测精度。
搜索关键词: 一种 提高 太阳系 天体 测量 观测 精度 方法
【主权项】:
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