[发明专利]测试方法及装置、电子设备、存储介质在审
| 申请号： | 202010484730.9 | 申请日： | 2020-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN113297062A | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 赵俊阳;王桐 | 申请（专利权）人： | 阿里巴巴集团控股有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 周嗣勇 |
| 地址： | 英属开曼群岛大开*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本说明书提供一种测试方法及装置、电子设备、存储介质；应用于测试控制设备，该方法包括：根据用户针对待测试产品发出的测试插件选取指令，从预先创建的测试插件库中选取相应的目标测试插件；确定所述用户针对所述目标测试插件设定的测试参数取值和目标测试设备；向所述目标测试设备发送所述目标测试插件和所述测试参数取值，以使所述目标测试设备按照所述测试参数取值执行所述测试插件；接收所述目标测试设备返回的针对待测试产品的测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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