[发明专利]一种单颗磁性磨粒磁场力测量方法及装置有效
申请号: | 202010488154.5 | 申请日: | 2020-06-02 |
公开(公告)号: | CN111610137B | 公开(公告)日: | 2023-08-11 |
发明(设计)人: | 韩冰;李奎;朱子俊;李路杰;朱慧宁;张家有 | 申请(专利权)人: | 辽宁科技大学 |
主分类号: | G01N15/10 | 分类号: | G01N15/10 |
代理公司: | 鞍山嘉讯科技专利事务所(普通合伙) 21224 | 代理人: | 白楠 |
地址: | 114051 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及磁粒研磨表面光整技术领域,尤其涉及一种单颗磁性磨粒磁场力测量方法及装置。包括工作台、永磁极、磁极夹持机构、三轴移动机构、磨粒存储器、磁性磨粒及电子天平;所述三轴移动机构设于电子天平上且能沿X、Y、Z三轴移动,工作台固定在电子天平上,测量时磁极夹持机构将永磁极夹持固定在工作台上;磁性磨粒放置在磨粒存储器内,磨粒存储器固定在三轴移动机构上,磨粒存储器位于永磁极的上方,通过三轴移动机构调节磁性磨粒与永磁极间的间隙。实现了对微小粒径磁性磨粒磁场力的测量,为磁粒研磨光整加工技术中磁性磨粒磁场力的理论分析提供实验验证。 | ||
搜索关键词: | 一种 磁性 磁场 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
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