[发明专利]非晶合金表面层的剪切模量和层厚的测量方法及应用有效

专利信息
申请号: 202010489694.5 申请日: 2020-06-02
公开(公告)号: CN111595696B 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 董杰;孙保安;白海洋;汪卫华 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: G01N3/22 分类号: G01N3/22;G01N3/06
代理公司: 北京市英智伟诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11521 代理人: 刘丹妮;姚望舒
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种非晶合金表面层的剪切模量和层厚的测算方法,所述方法包括:测量非晶合金的直径和计量长度,通过对所述非晶合金进行扭转实验采集扭矩‑转角曲线,将所述扭矩‑转角曲线转化为表面剪切应力‑表面剪切应变曲线,通过所述扭矩‑转角曲线和表面剪切应力‑表面剪切应变曲线获得所述非晶合金式样表面层的剪切模量和层厚。还提供了其应用。所述方法和模型具有普适性,也适用于获得具有“核‑壳”复合结构的圆柱形试样的表面层的剪切模量和层厚。该方法实施过程简捷,对试样形状和试验机条件要求简单。这为研究非晶合金表面性质以及其影响提供了一种简捷的新方法,可以极大促进对非晶合金物理本质理解,以及其力学行为的研究和调控。
搜索关键词: 非晶合 金表 面层 剪切 测量方法 应用
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