[发明专利]一种基于CIP数据质量控制的云微粒子分类方法有效
| 申请号： | 202010495758.2 | 申请日： | 2020-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN111860571B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 刘说;赵德龙;杨玲;吴泽培;张无暇;丁德平 | 申请（专利权）人： | 成都信息工程大学 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62;G06K9/34;G06N3/04;G06N3/08;G06T7/00 |
| 代理公司： | 成都拓荒者知识产权代理有限公司 51254 | 代理人： | 杨争华 |
| 地址： | 610225 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于CIP数据质量控制的云微粒子分类方法，主要包括首先对CIP图像进行预处理，然后对二值化的CIP图像进行云微粒子图像质量控制，接着CIP图像进行分割处理，建立基于迁移学习的深度神经网络分类模型，由于现有方法中缺乏对CIP数据进行图像质量控制并结合深度神经网络对CIP云微粒子图像进行分类，通过该方法可有效的提高对CIP云微粒子图像分类准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 cip 数据 质量 控制 微粒子 分类 方法 | ||
【主权项】：
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