[发明专利]一种基于数码相机成像模型的光谱测量方法有效

专利信息
申请号: 202010501555.X 申请日: 2020-06-04
公开(公告)号: CN111750994B 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: 梁金星;胡新荣;何儒汉;陈常念;吴晓堃;何凯;刘军平;彭涛;熊明福 申请(专利权)人: 武汉纺织大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 王琪
地址: 430200 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于数码相机成像模型的光谱测量方法,包括测量获得训练样本集的光谱数据Rtrain;测量获得实际应用环境中光源的光谱功率分布和测量对象方向的照度;选取合适拍摄参数,拍摄获得测量对象的数字图像,提取测量对象的raw响应值Dtest;依据数码相机成像模型,预测训练样本集在拍摄参数下的raw响应值Dtrain;利用训练样本集的预测raw响应值和对应的光谱数据Rtrain,计算光谱估计矩阵Q;利用光谱估计矩阵Q,估计测量对象的光谱Rtest;完成光谱测量,最终得到测量对象光谱数据。
搜索关键词: 一种 基于 数码相机 成像 模型 光谱 测量方法
【主权项】:
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