[发明专利]γ辐射多层屏蔽累积因子计算方法、装置、设备及介质有效

专利信息
申请号: 202010512787.5 申请日: 2020-06-08
公开(公告)号: CN111666719B 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 宋英明;李超;张泽寰;袁微微 申请(专利权)人: 南华大学
主分类号: G06F30/27 分类号: G06F30/27;G06N3/08
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 巴翠昆
地址: 421001 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 本申请公开了一种γ辐射多层屏蔽累积因子计算方法、装置、设备及介质,包括:确定影响累积因子的各种参数,产生多组不同屏蔽样本,并结合MCNP程序计算出对应的累积因子值;以确定的影响累积因子的各种参数作为输入,以计算出的对应的累积因子值作为输出,构建深度神经网络;对深度神经网络进行训练,通过不断调试学习参数,直至满足设定需求结束训练;将实际的影响累积因子的各种参数输入至训练好的深度神经网络,直接预测出对应的γ辐射多层累积因子。本申请通过构建深度神经网络,采用预计算的数据样本进行深度神经网络学习,可实现γ辐射多层累积因子快速准确计算,不但计算耗时少,可以一次性计算大量累积因子,而且其计算精度相对较高。
搜索关键词: 辐射 多层 屏蔽 累积 因子 计算方法 装置 设备 介质
【主权项】:
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