[发明专利]热载流效应耐受度的测试方法有效
| 申请号： | 202010513669.6 | 申请日： | 2020-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN113835007B | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 潘宜飞;骆晓东 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例提供一种热载流效应耐受度的测试方法，应用于存储器的输入输出电路，所述输入输出电路具有输出端，包括：控制所述输出端交替输出第一电平和第二电平，所述第一电平高于所述第二电平；根据所述第一电平和所述第二电平，得到所述输入输出电路的输出性能参数的退化速率；基于所述退化速率，获取所述输入输出电路的热载流效应耐受度。本发明有利于准确获取半导体器件对热载流效应的耐受度。 | ||
| 搜索关键词： | 热载流 效应 耐受 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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