[发明专利]磁材尺寸缺陷检测方法、装置、检测设备及可读存储介质有效
| 申请号： | 202010521715.7 | 申请日： | 2020-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN111667477B | 公开（公告）日： | 2023-06-20 |
| 发明（设计）人： | 张发恩;郝磊;刘强强;刘旭 | 申请（专利权）人： | 创新奇智（广州）科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/181;G01N21/88;G01N21/95;G01B11/24;G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 蒋姗 |
| 地址： | 510700 广东省广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种磁材尺寸缺陷检测方法、装置、检测设备及可读存储介质，该方法通过获取磁材的待处理图像，从待处理图像中提取出磁材的轮廓，进而提取轮廓中相邻两边交界处的交界点，依据交界点对轮廓进行切分，得到切分后的多个边，最后对切分后的多个边中的待检测边进行平整度检测，得到待检测边的拱形尺寸缺陷的评价指标。在得到评价指标后，即可根据评价指标对拱形尺寸缺陷的缺陷程度进行量化评价，从而准确把控各待检测边所具有的拱形尺寸缺陷的缺陷程度，排除了检测人员主观因数的影响，使得检测准确度更为可靠。同时本申请实施例的方案可自动化实现，相比于传统的人工检测方法而言，检测效率更高，同时也降低了人工投入，降低了劳动强度。 | ||
| 搜索关键词： | 尺寸 缺陷 检测 方法 装置 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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