[发明专利]一种DRAM接口类型探测方法及存储介质有效
申请号: | 202010522066.2 | 申请日: | 2020-06-10 |
公开(公告)号: | CN111857570B | 公开(公告)日: | 2022-07-15 |
发明(设计)人: | 汤云平 | 申请(专利权)人: | 瑞芯微电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06 |
代理公司: | 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219 | 代理人: | 林祥翔;徐剑兵 |
地址: | 350003 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 一种DRAM接口类型探测方法及存储介质,其中方法包括如下步骤,调整DRAM接口读指令延迟自8起依次增大2、DRAM接口写指令延迟自4起依次增大1;若存在某次增大后DRAM颗粒访问成功,则判断为LPDDR3颗粒,否则判断为LPDDR2颗粒。我们发现在实际应用中读指令延迟、写指令延迟与不同DRAM类型工作响应之间的关系,从而将其应用在接口类型探测中,通过上述方案,能够有效识别DRAM的接口类型。 | ||
搜索关键词: | 一种 dram 接口类型 探测 方法 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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