[发明专利]视网膜电位测量装置在审

专利信息
申请号: 202010522584.4 申请日: 2020-06-10
公开(公告)号: CN112057070A 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 船田英明 申请(专利权)人: 株式会社多美
主分类号: A61B5/0496 分类号: A61B5/0496;A61B5/00;A61B3/00;A61B3/12
代理公司: 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 代理人: 韩登营;栗涛
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种视网膜电位测量装置。视网膜电位测量装置通过光刺激来测量视网膜电位。视网膜电位测量装置包括视网膜电位检测部、光刺激照射部和控制部,其中,视网膜电位检测部检测受检眼的视网膜电位;光刺激照射部对受检眼照射光刺激;控制部控制从光刺激照射部照射的光刺激。控制部构成为能够连续地执行包含第1检查和第2检查的检查组,其中,第1检查以第1模式照射光刺激;第2检查以不同于第1模式的第2模式照射光刺激。在连续执行的检查组之间设置有第1规定间隔。据此,能够减少用于进行多种类型的检查所需要的时间。
搜索关键词: 视网膜 电位 测量 装置
【主权项】:
暂无信息
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