[发明专利]一种制备(222)强织构ITO薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 202010523344.6 申请日: 2020-06-10
公开(公告)号: CN111575666B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 张伟;姜智艺;鲍建秋;胡芳仁;张雪花 申请(专利权)人: 南京邮电大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/08;C23C14/02;C23C14/54
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 陈国强
地址: 210000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种制备(222)强织构ITO薄膜的方法,包括以下步骤:(1)清洗硅基片并安装于磁控溅射设备的腔室中;(2)将靶材放置于磁控溅射设备的腔室内,调整靶材和硅基片之间的距离;(3)对腔室进行抽真空处理;(4)对硅基片进行加热处理;(5)向腔室通入氩气和氧气;(6)开启磁控溅射设备,对硅基片进行溅射;(7)溅射完成后,得到(222)晶面高度择优取向的ITO薄膜。本发明通过实现了在普通单晶Si(100)基底上制备(222)晶面高度择优取向的ITO薄膜,无需引入种子层,利于高质量电子陶瓷薄膜在Si上的集成,具有结晶性良好,工艺简便,易于工业化的特点。
搜索关键词: 一种 制备 222 强织构 ito 薄膜 方法
【主权项】:
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