[发明专利]一种制备(222)强织构ITO薄膜的方法有效
申请号: | 202010523344.6 | 申请日: | 2020-06-10 |
公开(公告)号: | CN111575666B | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 张伟;姜智艺;鲍建秋;胡芳仁;张雪花 | 申请(专利权)人: | 南京邮电大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/08;C23C14/02;C23C14/54 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 陈国强 |
地址: | 210000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种制备(222)强织构ITO薄膜的方法,包括以下步骤:(1)清洗硅基片并安装于磁控溅射设备的腔室中;(2)将靶材放置于磁控溅射设备的腔室内,调整靶材和硅基片之间的距离;(3)对腔室进行抽真空处理;(4)对硅基片进行加热处理;(5)向腔室通入氩气和氧气;(6)开启磁控溅射设备,对硅基片进行溅射;(7)溅射完成后,得到(222)晶面高度择优取向的ITO薄膜。本发明通过实现了在普通单晶Si(100)基底上制备(222)晶面高度择优取向的ITO薄膜,无需引入种子层,利于高质量电子陶瓷薄膜在Si上的集成,具有结晶性良好,工艺简便,易于工业化的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 222 强织构 ito 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
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