[发明专利]双端读出晶体探测器及其作用深度刻度表快速生成方法有效
| 申请号： | 202010529541.9 | 申请日： | 2020-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN111624645B | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 范鹏;夏彦;杨晓宁;马天予;肖庆生;赵春晴;孙继鹏;孙宇;张显;郝放辉;刘亚强 | 申请（专利权）人： | 北京卫星环境工程研究所 |
| 主分类号： | G01T1/202 | 分类号： | G01T1/202 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 郭栋梁 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双端读出晶体探测器的作用深度刻度表的快速生成方法及相应晶体探测器，所述方法包括：获取在非准直光源照射条件下探测晶体两端的光电转换器件的输出信号的差异的计数统计分布曲线；提取所述计数统计分布曲线的两个边界；确定在所述两个边界处的输出信号的差异；依据所述输出信号的差异及对应的、非准直光源所发射的光子作用在探测晶体两端时的作用深度位置的值，计算求得作用深度刻度表。所述方法大幅度简化了作用深度刻度表的生成过程，提高了作用深度表的生成速度，避免了准直误差引入的作用深度刻度表的非精确性，提高了所述晶体探测器的工程实用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 读出 晶体 探测器 及其 作用 深度 刻度 快速 生成 方法 | ||
【主权项】：
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