[发明专利]高强度单色光辐照的测量方法及装置

摘要

本发明涉及一种高强度单色光的测量方法及装置。其包括如下步骤：步骤1、准备单色光光源强度测定的感光元件，通过感光元件能得到感光测量信号Sdig；步骤2、运算模块根据感光测量信号Sdig，能得到单色光光源对应等效的标准太阳数X(Suns)，X(Suns)＝Sdig/(Rcoef×AEff×e×Nph0)，其中，Rcoef为感光元件的响应系数，AEff为感光元件的有效面积，e为电子电量，Nph0为等效标准光的光子流密度；步骤3、所述运算模块通过显示模块显示输出所得到的等效标准太阳数X(Suns)。本发明能实现高光强单色光的辐照测定，测量效率高，适应范围广，安全可靠，并且经运算将输出值显示为标准日光的倍数，更加直观。