[发明专利]一种基于特征对比的缺陷检测方法及系统、存储介质有效
| 申请号： | 202010532060.3 | 申请日： | 2020-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN111696092B | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 杨洋 | 申请（专利权）人： | 深圳市华汉伟业科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/26;G06V10/774;G06V10/80;G06V10/82;G06N3/0464 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 彭家恩;郭燕 |
| 地址： | 518054 广东省深圳市南山区桃*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种基于特征对比的缺陷检测方法及系统、存储介质，其中缺陷检测方法包括：获取待检测物体的检测图像和所述待检测物体对应的标准品的基准图像；对所述检测图像和所述基准图像分别进行图像特征的编码处理，提取得到各自对应的高级特征；将所述高级特征通过特征的差分和组合处理，得到组合特征图像；利用所述组合特征图像对所述检测图像进行缺陷分割，得到所述待检测物体的缺陷特征。由于依据待检测物体的检测图像和待检测物体对应的标准品的基准图像来对检测图像进行缺陷特征的检测，使得检测图像和基准图像之间能够方便地进行特征对比，从而提高缺陷检测的准确率和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 特征 对比 缺陷 检测 方法 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
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