[发明专利]基于近区场重采样的阵列单元幅相一致性计算方法

摘要

本发明公开了一种基于近区场重采样的阵列单元幅相一致性计算方法，属于相控阵天线测量技术。该方法在获得天线阵列每个单元的近区场采样数据的基础上，首先以各单元中心法线为中心，取一定张角的区域，使用相同的局部栅格点重采样数据；然后选定基准单元，对幅度数据，计算每个单元在局部栅格点内的功率标量累积，再与基准单元作差，求得各单元的幅度一致性；对相位数据，将每个单元与基准单元在局部栅格点上的相位作差，再计算区域内的差相位加权平均值，求得各单元的相位一致性。本发明充分考虑了天线阵列中各单元辐射特性存在差异的实际情况，计算得到的单元幅相一致性与真实激励更为接近。