[发明专利]一种基于真空光镊的绝对重力仪和测量方法有效

专利信息
申请号: 202010534366.2 申请日: 2020-06-12
公开(公告)号: CN111913230B 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 陈杏藩;高晓文;李楠;胡慧珠;刘承 申请(专利权)人: 浙江大学;之江实验室
主分类号: G01V7/14 分类号: G01V7/14;G01J9/02
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 林超
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于真空光镊的绝对重力仪和测量方法。微纳粒子释放装置内装有微纳粒子,并位于激光光镊的上方,激光光镊中两束捕获光透射过各自的汇聚透镜后汇聚在交点,交点所在区域作为光阱捕获区,微纳粒子被两束捕获光稳定捕获在光阱捕获区;光学干涉仪和信号处理装置电连接,光学干涉仪对微纳粒子从光阱捕获区开始自由落体过程中实时测量位移并发送到信号处理装置,信号处理装置根据微纳粒子实时位移通过方法处理得到绝对重力加速度的测量值。本发明实时测量微纳小球在自由落体过程中的位移和时间实现绝对重力的测量,消除了环境空气干扰,可实现绝对重力加速度测量,改进了测量速度和效率。
搜索关键词: 一种 基于 真空 绝对 重力 测量方法
【主权项】:
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