[发明专利]一种晶片电容的高效测试设备在审
| 申请号： | 202010537866.1 | 申请日： | 2020-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN111487518A | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 唐杰祥;梁秀刚;袁中东 | 申请（专利权）人： | 肇庆华鑫隆自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;B07C5/344 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 杨利娟 |
| 地址： | 526114 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子元器件技术领域，尤其涉及一种晶片电容的高效测试设备。它包括控制器，与控制器依次连接的振动送料机构、吸料机构、转位机构、测试机构以及排料分仓机构，所述的振动送料机构、吸料机构、转位机构、测试机构以及排料分仓机构还分别与相应的驱动气缸相连，所述的转位机构包括复式转盘，所述的复式转盘采用卧式水平布局，在复式转盘的正面周边均匀开有槽孔，槽孔底端开有槽洞，在槽洞的孔底部镶上作为下电极的银合金层；所述的银合金层上开有与槽洞相通小孔，所述的小孔下端设有将晶片电容吸附定位的真空槽，所述的小孔与真空槽相通。整个工作过程运转顺畅，大大地提高了生产效，晶片电容也不与其它工件产生摩擦，不会有刮伤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶片 电容 高效 测试 设备 | ||
【主权项】：
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