[发明专利]节点测试方法和装置、存储介质和电子装置在审
申请号: | 202010538251.0 | 申请日: | 2020-06-12 |
公开(公告)号: | CN111813495A | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 杨晶晶 | 申请(专利权)人: | 北京金山云网络技术有限公司 |
主分类号: | G06F9/455 | 分类号: | G06F9/455;G06F11/22 |
代理公司: | 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 | 代理人: | 刘晓燕 |
地址: | 100085 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请涉及一种节点测试方法和装置、存储介质和电子装置,其中,该方法包括:对目标节点的目标业务模块进行测试,得到目标内核的第一测试结果,其中,目标业务模块用于处理目标节点的目标业务,目标内核为与目标节点对应的内核;对目标虚拟机的目标业务场景进行测试,得到目标内核的第二测试结果,其中,目标虚拟机为目标节点上的虚拟机;对目标节点的节点异常场景进行测试,得到目标内核的第三测试结果,其中,目标内核的测试结果包括第一测试结果、第二测试结果和第三测试结果。本申请解决了相关技术中的计算节点内核方式存在受到测试工具限制导致的测试不全面的问题。 | ||
搜索关键词: | 节点 测试 方法 装置 存储 介质 电子 | ||
【主权项】:
暂无信息
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