[发明专利]一种基于动基准平台的大型结构变形测量方法在审

专利信息
申请号: 202010540743.3 申请日: 2020-06-15
公开(公告)号: CN111486800A 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 张小虎;诸葛盛;王扬洋;杨夏 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 代理人: 邱轶
地址: 510275 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种基于动基准平台的大型结构变形测量方法,包括:选取至少两个基准参考点与至少一个待测点,且使基准参考点与待测点均位于同一平面;使激光射线的投影点落在大型结构物上位于对应基准参考点或对应待测点周围;在第一时刻,得到各投影点与对应基准参考点或对应待测点在世界坐标系下的第一水平间隔与第一竖直间隔;在第二时刻,得到各投影点与对应基准参考点或对应待测点在世界坐标系下的第二水平间隔与第二竖直间隔;得到各待测点从第一时刻到第二时刻所产生的变形量。采用激光指示对动基准平台的晃动量进行修正,实现基于动基准平台测量大型结构变形量的方法,其不仅维护和使用成本较抵,而且使用不方便,同时具有较高的测量精度。
搜索关键词: 一种 基于 基准 平台 大型 结构 变形 测量方法
【主权项】:
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