[发明专利]合并单元、选择覆盖范围合并方案的方法和深度测试系统在审
| 申请号： | 202010547067.2 | 申请日： | 2020-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN112116518A | 公开（公告）日： | 2020-12-22 |
| 发明（设计）人： | 阿布辛纳·格拉斯;尼古拉斯·索赫雷;桑托什·乔治·阿布拉罕 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06T1/20 | 分类号： | G06T1/20;G06T15/00 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 方成;张川绪 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种合并单元、选择覆盖范围合并方案的方法和深度测试系统。发明性方面包括用于像素图形的合并期间的粗略深度剔除的合并单元。所述合并单元包括光栅化器，光栅化器用于接收图元并生成像素覆盖范围信息和深度信息。合并单元包括一个或多个局部剔除级，所述一个或多个局部剔除级用于在图元的窗口内执行局部剔除。局部剔除单元输出幸存覆盖范围信息和幸存深度信息的集合。合并单元包括一个或多个全局剔除级，所述一个或多个全局剔除级用于基于先前接收的覆盖范围信息和深度信息的整体使用幸存覆盖范围信息和幸存深度信息的集合来进行进一步剔除。 | ||
| 搜索关键词： | 合并 单元 选择 覆盖 范围 方案 方法 深度 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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