[发明专利]位置检测设备和光学设备有效
| 申请号： | 202010547510.6 | 申请日： | 2020-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN112113586B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 伊藤大树 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01D5/245 | 分类号： | G01D5/245;G02B7/28;G03B13/18 |
| 代理公司： | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人： | 魏启学 |
| 地址： | 日本东京都大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供位置检测设备和光学设备。位置检测设备包括：旋转构件，其能够旋转并且具有第一凸轮和第二凸轮；第一检测器；第二检测器；和旋转位置获取器。第一凸轮在旋转构件的第一旋转范围和跟在第一旋转范围之后的第二旋转范围内移动第一移动单元。第二凸轮在旋转构件的第二旋转范围和跟在第二旋转范围之后的第三旋转范围内移动第二移动单元。旋转位置获取器在第一旋转范围内以及第二旋转范围的在第一旋转范围侧的部分内使用第一信号来获取旋转位置，并且在第三旋转范围内以及第二旋转范围的在第三旋转范围侧的部分内使用第二信号来获取旋转位置。 | ||
| 搜索关键词： | 位置 检测 设备 光学 | ||
【主权项】：
暂无信息
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