[发明专利]一种基于Mie氏散射理论的颗粒粒度测量设备在审
| 申请号： | 202010548966.4 | 申请日： | 2020-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN111650100A | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 杨亮 | 申请（专利权）人： | 辽东学院 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/03;G01N21/11;G01N21/49 |
| 代理公司： | 郑州豫原知识产权代理事务所(普通合伙) 41176 | 代理人： | 李天丽 |
| 地址： | 118001 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于Mie氏散射理论的颗粒粒度测量设备，具体涉及颗粒粒度测量方法领域，包括平行光产生模块、样品分散模块、光散射采集模块、电控二维导台和数据处理模块；平行光产生模块、样品分散模块和光散射采集模块从左到右呈一字型分布。本发明采用面阵CCD作为接收器件，获取艾里斑图像，提取其位置信息，实现图像引导对中，并求取对中修正参数，提高测量结果的准确度，通过设计二维导台控制面阵CCD位置，拍摄不同位置的多幅图像，且利用图像拼接技术，采集大角度光散射能量图，利用图像处理方法，动态划分散射角，提高粒度测量的分辨率，利用神经网络原理，改进传统反演算法，提高算法的精确度、速度和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 mie 散射 理论 颗粒 粒度 测量 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于辽东学院，未经辽东学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010548966.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
